エレクトリカル テスト ソリューション

GRLの  エレクトリカルテスト には、以下が含まれております:

GRLのエレクトリカルテストは、Kyesight、 Tektronix、 Anritsu、 Artekなどの試験器メーカーとの密接なパートナーシップを通して構築されています。

BERT レシーバー ソリューション

データ率の上昇に伴い、レシーバー エレクトリカルストレステストは多くのさまざまなスタンダードで要求されています。これは、非理想的な環境下で レシーバーデザインの頑健性をテストするために、ジッター量、減衰、およびインターシンボル干渉(ISI)を正確に制御し、受信回路に負荷を加えるためのストレス入力信号の生成が必要となります。GRLのBERT レシーバー テストソリューションは、お客様の試験時間を削減し、分かりやすく手順を踏んだ試験実施方法(MOI)、自動BERTキャリブレーション、ジッター耐久試験、AUX信号およびサイドバンドシグナルコントロール、DUTループバックモードとエラーカウンティングコントロール、また温度・電源電圧・テストデータ・マネジメント・報告書作成などのその他試験に付随する作業までを容易に統合することが可能です。

GRLは、以下の標準インターフェイスのためのBERT レシーバー ソリューションをご提供いたします:

Anritsu Solution:

GRL-PCIE4-BASE

Anritsu MP1800A レシーバー テストソリューション

  • NEW! USB3.1 Rx (GRL-USB31-RXA)
  • NEW! Thunderbolt 3 Rx (GRL_TBT3-RXA)
  • NEW! PCI Express 4.0 Rx (GRL-PCIE4-BASE-RXA)

 

Tektronix Solution:

BERT

Tektronix BERT Scope/AWGレシーバー テストソリューション

  • NEW! Q2 2017 release PAM4 Receiver Calibration
    and Test Software (GRL-PAM4-RX)
  • NEW! User Defined Calibration and Test (GRL-BSA-RX)
  • NEW! PC Express 4.0 Rx (GRL-PCi-BASE-RX)
  • NEW! SFP+/QSFP+ (GRL-SFPP-RX)
  • NEW! PCI Express 3.0 Rx (GRL-PCIE3-BASE-RX)
  • DisplayPort 1.2 (GRL-DP-SINK)
  • SAS 12G (GRL-SAS3-RX)
  • UHS-II (GRL-UHSII-RX)
  • MIPI MPhy (GRL-MIPI-MPHY-RX)

AWGレシーバー テストソリューション:

  • DisplayPort 1.2 (GRL-DP-SINKA) for AWG7122C

 

VNA/TDR オートメーション テストソリューション

 

高速での信号通信においては、伝送路のインピーダンス不整合による反射や波形干渉が大きな問題を引き起こすことを考えると、現在のより高速なインターフェイス評価は、ネットワークアナライザーもしくはサンプリングスコープを使用した時間軸測定と周波数軸測定の両方が要求されます。GRLのVNA/TDRオートメーション テストソリューションは、お客様の試験時間節約を可能にし、分かりやすく手順を踏んだ試験実施方法(MOI)、自動VNA/TDRキャリブレーション、リターン・ロス/インサーションロス、インピーダンス測定、AUX信号およびサイドバンドシグナルコントロール、DUTコンプライアンスパターン生成を実現し、温度・電源電圧・テストデータ・マネジメント・報告書作成などのその他試験に付随する作業までを容易に統合することが可能です.

GRLは、以下の標準インターフェイスのためのVNA/TDR自動解析を提供しております:

      • NEW! Thunderbolt Automation (GRL-TBT-ENA)